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環(huán)境試驗(yàn)的種類簡(jiǎn)介

環(huán)境試驗(yàn)是由于產(chǎn)品在使用過程中，有不同的使用環(huán)境（有些安裝在室外、有些隨身攜帶、有些裝有船上等等），會(huì)受到不同環(huán)境的應(yīng)力（有些受到風(fēng)吹雨濕、有些受到振動(dòng)與跌落、有些受到鹽霧蝕侵等等）；為了確認(rèn)產(chǎn)品能在這些環(huán)境下正常工作，國標(biāo)、行標(biāo)都要求產(chǎn)品在環(huán)境方法模擬一些測(cè)試項(xiàng)目，這些測(cè)試項(xiàng)目包括：1.高溫測(cè)試；2.低溫測(cè)試3.高低溫交變測(cè)試4.高溫高濕測(cè)試5.機(jī)械振動(dòng)測(cè)試6.機(jī)械沖擊測(cè)試；7.開關(guān)電測(cè)試；8.電源拉偏測(cè)試；9.冷啟動(dòng)測(cè)試；10.鹽霧測(cè)試；11.淋雨測(cè)試；12.塵砂測(cè)試；說...

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鹽水噴霧試驗(yàn)的種類介紹

一鹽霧的腐蝕腐蝕是材料或其性能在環(huán)境的作用下引起的破壞或變質(zhì)。大多數(shù)的腐蝕發(fā)生在大氣環(huán)境中，大氣中含有氧氣、濕度、溫度變化和污染物等腐蝕成分和腐蝕因素。鹽霧腐蝕就是一種常見和zui有破壞性的大氣腐蝕。這里講的鹽霧是指氯化物的大氣，它的主要腐蝕成分是海洋中的氯化物鹽——氯化鈉，它主要來源于海洋和內(nèi)地鹽堿地區(qū)。鹽霧對(duì)金屬材料表面的腐蝕是由于含有的氯離子穿透金屬表面的氧化層和防護(hù)層與內(nèi)部金屬發(fā)生電化學(xué)反應(yīng)引起的。同時(shí)，氯離子含有一定的水合能，易被吸附在金屬表面的孔隙、裂縫排擠并取代...

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如何選用環(huán)境試驗(yàn)箱

一、設(shè)備選擇依據(jù)存在于地球表面及大氣層空間中的自然環(huán)境因素和誘發(fā)環(huán)境因素的種類，目前還無法統(tǒng)計(jì)出一個(gè)確切的數(shù)目，其中對(duì)工程產(chǎn)品（設(shè)備）的使用及壽命影響較大的因素不下十幾種。從事工程產(chǎn)品環(huán)境條件研究的工程師們將自然界存在以及人類活動(dòng)所誘發(fā)的環(huán)境條件整理歸納為一系列的試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)和規(guī)范，用以指導(dǎo)工程產(chǎn)品的環(huán)境及可靠性試驗(yàn)。如指導(dǎo)軍工產(chǎn)品進(jìn)行環(huán)境試驗(yàn)GJB150――中華人民共和國國家軍用標(biāo)準(zhǔn)《軍用設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法》，指導(dǎo)電工電子產(chǎn)品進(jìn)行環(huán)境試驗(yàn)的GB2423――中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)《...

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鹽霧試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)目錄

JISC0023-1989基本環(huán)境試驗(yàn)程序.第2部分:試驗(yàn).試驗(yàn)Ka:鹽霧試驗(yàn)IEC60068-2-11-1981,IDTDZ0039.15-1992地質(zhì)儀器產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)條件及方法鹽霧試驗(yàn)SH/T0081-1991防銹油脂鹽霧試驗(yàn)法≈JISK2246-89SY2757-1988GB/T10125-1997人造氣氛中的腐蝕試驗(yàn)鹽霧試驗(yàn)GB/T10125-1988;GB/T6458-1986;GB/T6459-1986;GB/T6560-1986GB/T10263.7-198...

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試驗(yàn)設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)及檢定方法

一、概況環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備設(shè)計(jì)、生產(chǎn)的依據(jù)是環(huán)境試驗(yàn)方法，隨著生產(chǎn)力的進(jìn)步、國民經(jīng)濟(jì)的發(fā)展，環(huán)境試驗(yàn)方法的日臻豐富，相應(yīng)的環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備亦隨之日益增多。為了使環(huán)境試驗(yàn)?zāi)芸煽俊⒊掷m(xù)地得到實(shí)施，這就需要有*，性能合格的試驗(yàn)設(shè)備，而要達(dá)到這一要求，就需有一個(gè)統(tǒng)一衡量試驗(yàn)設(shè)備尺度即環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)，以及環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定標(biāo)準(zhǔn)。我國的環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)（以下簡(jiǎn)稱“設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)”）及電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法標(biāo)準(zhǔn)（以下簡(jiǎn)稱“方法標(biāo)準(zhǔn)”）起草、發(fā)布、實(shí)施于二十世紀(jì)八十年代中期。為使該...

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